Перейти из форума на сайт.

НовостиФайловые архивы
ПоискАктивные темыТоп лист
ПравилаКто в on-line?
Вход Забыли пароль? Первый раз на этом сайте? Регистрация
Компьютерный форум Ru.Board » Компьютеры » Программы » Программы для разработки, тестирования оптических систем

Модерирует : gyra, Maz

Maz (02-03-2017 13:42): Программы для разработки, тестирования оптических систем. Часть 3  Версия для печати • ПодписатьсяДобавить в закладки
Страницы: 1 2 3 4 5 6 7 8 9 10 11 12 13 14 15 16 17 18 19 20 21 22 23 24 25 26 27 28 29 30 31 32 33 34 35 36 37 38 39 40 41 42 43 44 45 46 47 48 49 50 51 52 53 54 55 56 57 58 59 60 61 62 63 64 65 66 67 68 69 70 71 72 73 74 75 76 77 78 79 80 81 82 83 84 85 86 87 88 89 90 91 92 93 94 95 96 97 98 99 100 101 102 103 104 105 106 107 108 109 110 111 112 113 114 115 116 117 118 119 120 121 122 123 124 125 126 127 128 129 130 131 132 133 134 135 136 137 138 139 140 141 142 143 144 145 146 147 148 149 150 151 152 153 154 155 156 157 158 159 160 161 162 163 164 165 166 167 168 169 170 171 172 173 174 175 176 177 178 179 180 181 182 183 184 185 186 187 188 189 190 191 192 193 194 195 196 197 198 199

   

Widok



Moderator-Следопыт
Редактировать | Профиль | Сообщение | Цитировать | Сообщить модератору
Что есть нового в мире оптики?
рекламируем себя,
обсуждаем проблемы...предлагаем решения...
 
оптика обсуждается и на этих страничках:
http://physics.nad.ru/cgi-bin/forum.pl?forum=opt
http://groups.google.com/group/sci.optics/
 
Вопросы по варезу тут:
http://forum.ru-board.com/topic.cgi?forum=35&bm=1&topic=4999
По стандартам есть также специальная тема:
http://forum.ru-board.com/topic.cgi?forum=93&bm=1&topic=0348&start=1520#lt
 
Список имеющихся книг по оптической тематике http://optdesign.narod.ru/optic_book_.htm  обновлено 15.10.2014
Большинство из них можно найти на сайтах gigapedia.org, optdesign.narod.ru, poiskknig.ru,
optical-help.info, gen.lib.rus.ec
На книголюбе Подробнее... лежат все из списка. Постепенно список обновляется....  
 
На трекере
Подробнее...
 
Японский форум по Zemax
 
Optical Design with Zemax
 
Optical design with Zemax for PhD
 
Лекции по оптике и др.
 
Первая часть темы здесь
http://forum.ru-board.com/topic.cgi?forum=5&topic=14470&start=0#lt

Всего записей: 24190 | Зарегистр. 07-04-2002 | Отправлено: 11:19 23-11-2010 | Исправлено: Maz, 13:38 02-03-2017
yevogre



Advanced Member
Редактировать | Профиль | Сообщение | Цитировать | Сообщить модератору

Цитата:
3D профилометр Mahr.  
Вариантов экспорта данных много, но остановились на подборе коэффициентов и потом их забиваем в Земакс  

Не берусь утверждать, чисто ИМХО.
Но гораздо проще выстроить данный профиль в 3D пакете (тот-же SolidWorks), оформить линзу и протрассировать в Трэйсе или подобном.
Форму пятна получите.
Подбор коэффициентов по сагитам не будет точнее, ИМХО.
И если система центрально-симметричная, то практически везде рекомендация - все нечетные коэффициенты равны нулю.
 
Добавлено:
Простите, не подумал.
Вам нужно копию снять чтобы повторить?

Всего записей: 1128 | Зарегистр. 22-02-2008 | Отправлено: 08:34 25-02-2017 | Исправлено: yevogre, 11:06 25-02-2017
VECTORRR



Advanced Member
Редактировать | Профиль | Сообщение | Цитировать | Сообщить модератору
yevogre

Цитата:
Вам нужно копию снять чтобы повторить?
 

Думаю, что просто хотят проверить насколько реально изготовленная поверхность соответствует заданной станку.
Я бы тогда находил среднеквадратичное отклонение между заданной и аппроксимированной функцией отдельно для случая четной и нечётной аппроксимации, т.е. получилось бы 10 чётных (r^2, r^4,...,r^20) и нечётных (r^3, r^5,...,r^19)аппроксимаций, в зависимости от количества членов. Из этих двадцати выбрал бы из чётных и нечётных с наименьшим СКО и глянул бы разницу в Земаксе.
 
Хотя, зачем так мудрить. Просто попробуйте в Земаксе чётную и нечётную с тремя коэффициентами. Возможно, что там отклонения в координатах лучей будут меньше микрона или около того, поэтому будет без разницы.    

Всего записей: 1090 | Зарегистр. 05-05-2009 | Отправлено: 10:01 25-02-2017
yevogre



Advanced Member
Редактировать | Профиль | Сообщение | Цитировать | Сообщить модератору

Цитата:
Думаю, что просто хотят проверить насколько реально изготовленная поверхность соответствует заданной станку.

А тогда зачем так сложно-то?
Есть реальные сагиты, есть расчетные - сопоставил и всё.... ИМХО, конечно.
 
Нет, я думаю, что есть некая поверхность, которую надобно скопировать.
А станку надобны не сагиты, а реальные коэффициенты (сагиты только для контроля правильности даются).  
 
Или нужны параметры поверхности для конечных критериев качества - тогда можно и простым счетом подобрать нечто подобное.
 
В общем, нужны условия задачки - тогда и прикинуть можно будет

Всего записей: 1128 | Зарегистр. 22-02-2008 | Отправлено: 11:32 25-02-2017
predom

Junior Member
Редактировать | Профиль | Сообщение | Цитировать | Сообщить модератору

Цитата:
Добавлено:  
Простите, не подумал.  
Вам нужно копию снять чтобы повторить?

 
Нужно проверить, как изготовленная линза с имеющимися отклонениями работает в системе. Чертежи с уравнением асферики на неё имеются)
 

Цитата:
А тогда зачем так сложно-то?  
Есть реальные сагиты, есть расчетные - сопоставил и всё.... ИМХО, конечно.  

 
Отклонение от профиля около PV 300нм, RMS 60nm нужно определиться до какой точности нужно изготавливать поверхность.
 
Основная проблема - это расчет допусков на асферическую поверхность: отклонение от профиля в каких-либо попугаях.
 
Кто как определяет допуски на асферику, поделитесь инфой)

Всего записей: 64 | Зарегистр. 24-01-2009 | Отправлено: 12:27 25-02-2017
VECTORRR



Advanced Member
Редактировать | Профиль | Сообщение | Цитировать | Сообщить модератору
predom

Цитата:
нужно определиться до какой точности нужно изготавливать поверхность.

Т.е. нужно обычные оптические отклонения N и дельта-N перевести в значения PV и RMS?

Всего записей: 1090 | Зарегистр. 05-05-2009 | Отправлено: 15:36 25-02-2017
sikd

Member
Редактировать | Профиль | Сообщение | Цитировать | Сообщить модератору

Цитата:
Увы, пока из доступных инструментов (лицензия, нормально работает) - Zemax.  

Так в Zemax тоже есть свой Importance sampling

Всего записей: 298 | Зарегистр. 30-03-2005 | Отправлено: 19:07 25-02-2017
Aspirant_Levin



Junior Member
Редактировать | Профиль | Сообщение | Цитировать | Сообщить модератору
predom

Цитата:
Основная проблема - это расчет допусков

Прогоните расчёт допусков в земаксе с Вашими значениями PV и RMS и оцените, как отработает линза в системе, примерно конечно, но хотя бы будете знать пограничное это положение или нет (ужесточать допуска или нет).
А по расчёту допусков:берёте OCT3-4918-93, забиваете "рекомендуемые" цифры в земакс, прогоняете расчёт допусков, оцениваете результат, не устраивает - ужесточаете допуск и так до победного.
P.S. Конечно эта схема "долгоиграющая" в смысле времени для многокомпонентных "неделимых" систем, таких как фотолитографические объективы, например, с другой стороны их никто в России и не делает.

Всего записей: 160 | Зарегистр. 26-01-2011 | Отправлено: 09:23 26-02-2017
VECTORRR



Advanced Member
Редактировать | Профиль | Сообщение | Цитировать | Сообщить модератору
sikd

Цитата:
Так в Zemax тоже есть свой Importance sampling

Ага, и правда есть, но только там указано что он для рассеяния. Полагаю, что описать рассеивающие свойства поверхности по зеркальному типу не представит проблем, поэтому это может помочь интересующемуся. А вообще, кто-нибудь это использовал? Работает?
 
Aspirant_Levin

Цитата:
Прогоните расчёт допусков в земаксе с Вашими значениями PV и RMS

Некуда вставлять эти PV и RMS, так как исходя из мануала "Analysis of irregularity on surface types other than Standard is not directly supported.", т.е. только ошибки в кольцах, а не в мм.  
 
Aspirant_Levin

Цитата:
А по расчёту допусков:берёте OCT3-4918-93, забиваете "рекомендуемые" цифры в земакс

Тогда технологи ещё даже и не мечтали о том, что будет такое оборудование, как сейчас.
 
 
 

Всего записей: 1090 | Зарегистр. 05-05-2009 | Отправлено: 11:06 26-02-2017 | Исправлено: VECTORRR, 11:09 26-02-2017
Ozzma

Junior Member
Редактировать | Профиль | Сообщение | Цитировать | Сообщить модератору

Цитата:
Отклонение от профиля около PV 300нм, RMS 60nm нужно определиться до какой точности нужно изготавливать поверхность.

- а профилометр не подбирает уравнение поверхности? (хотя бы с некоторым усреднением для исключения мелких неоднородностей)
(я могу только предполагать)
Можно создать имитирующую мелкую местную неоднородность линзу (через асф. пов. или просто децентрированную) и посмотреть, как она "местно" портит волновой фронт. Дальше анализ...

Всего записей: 96 | Зарегистр. 15-10-2007 | Отправлено: 11:20 26-02-2017
predom

Junior Member
Редактировать | Профиль | Сообщение | Цитировать | Сообщить модератору

Цитата:
- а профилометр не подбирает уравнение поверхности? (хотя бы с некоторым усреднением для исключения мелких неоднородностей)  
(я могу только предполагать)  
Можно создать имитирующую мелкую местную неоднородность линзу (через асф. пов. или просто децентрированную) и посмотреть, как она "местно" портит волновой фронт. Дальше анализ...

 
Профилометр подбирает ближайшее уравнение. Где то до PV 150-200 нм получается отклонение с подбором.
 
 
 

Цитата:
А по расчёту допусков:берёте OCT3-4918-93, забиваете "рекомендуемые" цифры в земакс
 
Тогда технологи ещё даже и не мечтали о том, что будет такое оборудование, как сейчас.  

 
Да, это точно...

Всего записей: 64 | Зарегистр. 24-01-2009 | Отправлено: 11:28 26-02-2017
Aspirant_Levin



Junior Member
Редактировать | Профиль | Сообщение | Цитировать | Сообщить модератору
VECTORRR

Цитата:
Тогда технологи ещё даже и не мечтали о том...

Тем более!!! Если уж те цифры могли "изготовить", то с нынешней технологией и подавно. А если Ваша схема на пределе современных технологий, то изготовить в России её НЕРЕАЛЬНО!!! Но всё это никакого отношения к методам расчёта допусков не имеет.
 
Я использую операнд TFRN для оценки допуска на общую ошибку N и операнд TEZI для оценки допуска на местную ошибку delta N.
 
Что бы ПРИМЕРНО оценить, как отработает линза predom в системе, я бы прогнал расчёт допусков с значениями фактических замеров и данных полученных с профилометра. Тогда будет хотя бы понятно пограничная ситуация с допусками или нет.
 
А теперь цитаты из мануала по поводу:

Цитата:
Некуда вставлять эти PV и RMS

"При использовании оператора TEZI величина mах допуска точно равна RMS ошибки поверхности в единицах измерения, установленных для системы."
 

Всего записей: 160 | Зарегистр. 26-01-2011 | Отправлено: 15:22 27-02-2017
A_P_V

Advanced Member
Редактировать | Профиль | Сообщение | Цитировать | Сообщить модератору
Обычно производство требует именно PV на асферику.

Всего записей: 673 | Зарегистр. 23-06-2009 | Отправлено: 19:54 27-02-2017
predom

Junior Member
Редактировать | Профиль | Сообщение | Цитировать | Сообщить модератору

Цитата:
Обычно производство требует именно PV на асферику.

 
Да, его проще всего контролировать. Но сейчас есть возможность большое множество параметров контролировать.
Еще обращаю внимание на Slope Error, очень полезная величина.
 
 
 

Цитата:
А теперь цитаты из мануала по поводу:  
 
Цитата:
Некуда вставлять эти PV и RMS
 
"При использовании оператора TEZI величина mах допуска точно равна RMS ошибки поверхности в единицах измерения, установленных для системы."

 
Надо завтра попробовать

Всего записей: 64 | Зарегистр. 24-01-2009 | Отправлено: 20:39 27-02-2017 | Исправлено: predom, 22:01 27-02-2017
VECTORRR



Advanced Member
Редактировать | Профиль | Сообщение | Цитировать | Сообщить модератору
Aspirant_Levin

Цитата:
А если Ваша схема на пределе современных технологий, то изготовить в России её НЕРЕАЛЬНО!!!

А сейчас мы и узнаем.)
predom, а что у Вас за система-то, если не секрет?  
А вот и табличка есть первая попавшаяся, например. У вас сейчас какой вариант?
 
   
 
Aspirant_Levin

Цитата:
Я использую операнд TFRN для оценки допуска на общую ошибку N
   TEZI для оценки допуска на местную ошибку delta N.

TFRN - Tolerance on radius in fringes, т.е. только для сферических поверхностей. Или для чётной асферики тоже работает?
 
A_P_V

Цитата:
Обычно производство требует именно PV на асферику.  

Увидел, что там есть ещё TEXI, который и есть "peak to valley", вроде:
"When using TEXI, the min and max tolerance values are interpreted to be the approximate magnitude of the zero to peak error of the surface in double-pass fringes at the test wavelength. The zero to peak is only a very rough measure of the irregularity. Whether the zero to peak and peak to valley are the same depends upon the particular Zernike term used."
 

Всего записей: 1090 | Зарегистр. 05-05-2009 | Отправлено: 05:32 28-02-2017 | Исправлено: VECTORRR, 08:59 28-02-2017
predom

Junior Member
Редактировать | Профиль | Сообщение | Цитировать | Сообщить модератору

Цитата:
Цитата:
А если Ваша схема на пределе современных технологий, то изготовить в России её НЕРЕАЛЬНО!!!
 
А сейчас мы и узнаем.)  
predom, а что у Вас за система-то, если не секрет?  
А вот и табличка есть первая попавшаяся, например. У вас сейчас какой вариант?  
 
   

 
Если говорить о единичном производстве, то можно изготовить. Вопрос лишь затраченного времени.
В России много где стоят немецкие станки и соответствующее измерительное оборудование.
Когда дело доходит до серии, не очень многие берутся что-то высокоточное делать. Народ сразу зарплату начинает требовать))))
 
До точности PV 150-200 нм без проблем можно изготовить.
 
Дальше ионной доводкой до нескольких нм доводят поверхность. Такие установки произодятся серийно.
http://www.optotech.de/feinoptik/ibf-150
 

Всего записей: 64 | Зарегистр. 24-01-2009 | Отправлено: 09:59 28-02-2017
Ozzma

Junior Member
Редактировать | Профиль | Сообщение | Цитировать | Сообщить модератору

Цитата:
Дальше ионной доводкой до нескольких нм доводят поверхность.

Извините, а скажите, пожалуйста, обрабатываемые детали должны быть из какого материала - из стекла или из пластика?
(А такие установки прямо широко используют? По ссылке написано, что скорость удаления 1-2 нм/с - вроде неплохо... Но для крупной серии всё равно, наверное, не пойдёт?)
(Просто интересно, как всякие крупные производители, например, фотообъективов со стеклянной асферикой эту самую асферику делают)
(Я слышала, в ГОИ тоже есть свои специалисты по ионной обработке, интересно, а в России ещё где-нибудь такие станки делают?)

Всего записей: 96 | Зарегистр. 15-10-2007 | Отправлено: 13:36 28-02-2017
predom

Junior Member
Редактировать | Профиль | Сообщение | Цитировать | Сообщить модератору

Цитата:
Цитата:
Дальше ионной доводкой до нескольких нм доводят поверхность.
 
Извините, а скажите, пожалуйста, обрабатываемые детали должны быть из какого материала - из стекла или из пластика?  
(А такие установки прямо широко используют? По ссылке написано, что скорость удаления 1-2 нм/с - вроде неплохо... Но для крупной серии всё равно, наверное, не пойдёт?)  
(Просто интересно, как всякие крупные производители, например, фотообъективов со стеклянной асферикой эту самую асферику делают)  
(Я слышала, в ГОИ тоже есть свои специалисты по ионной обработке, интересно, а в России ещё где-нибудь такие станки делают?)

 
Стекло
 
Я не уверен, что фотообъективы так точно сделаны.
Кроме ионной полировки есть еще MRF, довольно быстрая и точная штука.
Насколько я знаю, объективы для интерферометров потом доводятся с помощью MRF.
 
Про Россию, к сожалению, не знаю. Слышал, что плоские поверхности доводят, но где - не знаю.

Всего записей: 64 | Зарегистр. 24-01-2009 | Отправлено: 16:13 28-02-2017
Aegis_I

Advanced Member
Редактировать | Профиль | Сообщение | Цитировать | Сообщить модератору

Цитата:
а в России ещё где-нибудь такие станки делают

а в России кто-нибудь делает хоть какие-нибудь станки для оптики?

Всего записей: 1118 | Зарегистр. 01-06-2016 | Отправлено: 17:00 28-02-2017
predom

Junior Member
Редактировать | Профиль | Сообщение | Цитировать | Сообщить модератору

Цитата:
Цитата:
а в России ещё где-нибудь такие станки делают
 
а в России кто-нибудь делает хоть какие-нибудь станки для оптики?

 
 
Если речь идет о рычажных станках, возможно, что в Белоруссии.
 
Станки подобные Optotech, Schneider или Satisloh не производят.
 
Может что в Казани для асферики могут сделать, я не знаю.

Всего записей: 64 | Зарегистр. 24-01-2009 | Отправлено: 17:15 28-02-2017
Ozzma

Junior Member
Редактировать | Профиль | Сообщение | Цитировать | Сообщить модератору
в НПО Оптика делают станки для почти плоской крупногабаритной асферики (на рычаге ходят шлифовальники-полировальники, управление по ЧПУ)
 
 
Добавлено:
MRF - Magnetorheological finishing?  
А где это есть? Надо будет поизучать...

Всего записей: 96 | Зарегистр. 15-10-2007 | Отправлено: 19:43 28-02-2017 | Исправлено: Ozzma, 19:48 28-02-2017
   

Страницы: 1 2 3 4 5 6 7 8 9 10 11 12 13 14 15 16 17 18 19 20 21 22 23 24 25 26 27 28 29 30 31 32 33 34 35 36 37 38 39 40 41 42 43 44 45 46 47 48 49 50 51 52 53 54 55 56 57 58 59 60 61 62 63 64 65 66 67 68 69 70 71 72 73 74 75 76 77 78 79 80 81 82 83 84 85 86 87 88 89 90 91 92 93 94 95 96 97 98 99 100 101 102 103 104 105 106 107 108 109 110 111 112 113 114 115 116 117 118 119 120 121 122 123 124 125 126 127 128 129 130 131 132 133 134 135 136 137 138 139 140 141 142 143 144 145 146 147 148 149 150 151 152 153 154 155 156 157 158 159 160 161 162 163 164 165 166 167 168 169 170 171 172 173 174 175 176 177 178 179 180 181 182 183 184 185 186 187 188 189 190 191 192 193 194 195 196 197 198 199

Компьютерный форум Ru.Board » Компьютеры » Программы » Программы для разработки, тестирования оптических систем
Maz (02-03-2017 13:42): Программы для разработки, тестирования оптических систем. Часть 3


Реклама на форуме Ru.Board.

Powered by Ikonboard "v2.1.7b" © 2000 Ikonboard.com
Modified by Ru.B0ard
© Ru.B0ard 2000-2024

BitCoin: 1NGG1chHtUvrtEqjeerQCKDMUi6S6CG4iC

Рейтинг.ru