tomset
BANNED | Редактировать | Профиль | Сообщение | Цитировать | Сообщить модератору
От склероза. )
Забывают они информацию критичную, когда им вздумается.
В том числе и от бросков питания.
Даже не то что от бросков а незначительных пульсаций питания.
Так как от этого зависят уровни заряда ячеек.
Проверить их не убив значительно ресурс невозможно.
Только условно. Записал, читается, - вероятно будет работать.
Недостатки всех флешек, т.е. NAND микросхем, не зависимо от контролёров, одинаковые.
- ограниченный ресурс.
- не возможность записать в "грязную страницу", обязательно надо переместить часть информации и занулить только блоком. это лишние записи, лишний износ
- значительное сокращение срока хранения из-за износа (10% ресурса записи сокращают время хранения в 10 раз.
- Зависимость времени хранения от температуры.
Допустим записал при 65 градусах - время хранения уменьшается до порядка 2-х недель.
- запись в одни страницы подтирает соседние.
- влияние различных жестких излучений. Пролетела частица из космоса через микросхему. Разрядила порядка 200 ячеек, восстановить информацию ни каким контролем четности-ECC уже невозможно.
- ключевой характер переключения больших групп ячеек.
Как не распределяй нагрузку ячеек различными алгоритмами, всегда существует вероятность, что попадется такая комбинация данных, что сработает ячеек больше чем расчитаны силовые элементы микросхем.
В результате часть ячеек не до зарядится.
Фактически отказы носят случайный, не предсказуемый характер.
|
Всего записей: 6906 | Зарегистр. 02-12-2002 | Отправлено: 19:55 04-06-2016 | Исправлено: tomset, 20:15 04-06-2016 |
|
