dimzakh
Full Member | Редактировать | Профиль | Сообщение | Цитировать | Сообщить модератору
Brese
Угу, но еще корректнее говорить о пороговой чувствительности - т.е. минимальной дозе излучения, необходимой для получения выходного сигнала (потемнения ли фотоэмульсии, электрического ли сигнала), уверенно превышающего уровень шума, - и о чувствительности как тангенсе наклона фотометрической кривой, т.е. увеличении выходного сигнала при увеличении светового птока на стандартную величину. Первая характеристика - в большей или меньшей степени постоянна для данного фотоматериала или матрицы, вторую - можно менять изменением режима обработки для пленки или коэффициентом усиления усилка (или вообще софтовым умножением) в цифровике.
Понятно, что с фотоном больше ничего не сделаешь - кроме как заставить его электрон выбить. Но механизм регистрации этого электрона разный в химическом и полупроводниковом сенсоре. В химическом - огромное химическое усиление, автокатализ в процессе проявления; в полупроводнике - мы вынуждены "честно" считать все электроны поштучно; теряя их и захватывая посторонние в процессе накопления и переноса и в шумах усилителя. Еще - у полупроводника величина энергии ионизации много ниже, с одной стороны это его чувствительность позволяет поднять, эффективность захвата электронов, но с другой - делает гораздо более чувствительным к тепловым колебаниям решетки и появлению соответствующего шума. И - в эмульсии существует распределение зерен по величине, обесечивающее плавную кривую насыщения и высокий динамический диапазон. По чувствительности матрицы пожалуй обошли пленку - но до глаза им далеко; будем ждать криостатов в фотоаппарате - или матриц на принципах наподобие фотоумножителя : )
|
